無損檢測(ce)就是利用(yong)聲、光、磁(ci)和電等特(te)性(xing)，在不損害或不影響被檢對(dui)象(xiang)(xiang)使用(yong)性(xing)能(neng)的(de)(de)前提下，檢測(ce)被檢對(dui)象(xiang)(xiang)中是否存(cun)在缺陷或不均勻性(xing)，給(gei)出(chu)缺陷的(de)(de)大(da)小、位置、性(xing)質和數量等信息，進而判定(ding)被檢對(dui)象(xiang)(xiang)所處技術狀(zhuang)態(如(ru)合格與否、剩余壽(shou)命等)的(de)(de)所有技術手段的(de)(de)總稱。常用(yong)的(de)(de)無損檢測(ce)方法：超(chao)聲檢測(ce)(UT)、磁(ci)粉檢測(ce)(MT)、液體滲透檢測(ce)(PT)及X射線(xian)檢測(ce)(RT)。       


  超聲(sheng)波檢測(ce)已經單(dan)獨(du)詳細的介(jie)紹過了，下(xia)面就(jiu)簡單(dan)地對(dui)剩(sheng)下(xia)的三個進(jin)行介(jie)紹和對(dui)比。       


 首先來了解(jie)一下，磁(ci)(ci)粉(fen)檢測的(de)原理。鐵磁(ci)(ci)性(xing)材料和(he)工件被(bei)磁(ci)(ci)化后，由于不連(lian)續性(xing)的(de)存(cun)在，工件表(biao)面(mian)和(he)近表(biao)面(mian)的(de)磁(ci)(ci)力線發生局部畸變(bian)，而產生漏磁(ci)(ci)場，吸附施(shi)加(jia)在工件表(biao)面(mian)的(de)磁(ci)(ci)粉(fen)，形成在合(he)適光(guang)照下目視(shi)可見的(de)磁(ci)(ci)痕(hen)，從而顯示出不連(lian)續性(xing)的(de)位置、形狀和(he)大小。       


 磁粉檢測的適用(yong)性(xing)和局限性(xing)有：


 1. 磁粉探(tan)傷適(shi)用于檢(jian)測鐵磁性(xing)材料表面和近表面尺寸很小、間隙極窄目視難(nan)以(yi)看出的不(bu)連續性(xing)。       


 2. 磁(ci)粉檢測可對多種情況下的零部件(jian)檢測，還可多種型件(jian)進行(xing)檢測。       


 3. 可發現裂(lie)紋、夾雜、發紋、白點(dian)、折疊、冷隔和(he)疏松等缺陷。       


 4. 磁粉(fen)檢測不(bu)能檢測奧(ao)氏(shi)體不(bu)銹(xiu)鋼材料(liao)和用(yong)奧(ao)氏(shi)體不(bu)銹(xiu)鋼焊條焊接的焊縫，也不(bu)能檢測銅鋁鎂鈦等非磁性(xing)材料(liao)。對于表面淺(qian)劃傷(shang)、埋藏較(jiao)深洞和與工件表面夾(jia)角(jiao)小于20°的分(fen)層和折疊很難發現。


  液(ye)體滲(shen)透(tou)檢測(ce)的(de)(de)(de)基(ji)本原理，零件(jian)表(biao)面被施(shi)涂(tu)含有熒光(guang)染料(liao)或(huo)著色染料(liao)后，在一段時間的(de)(de)(de)毛細管作用(yong)下(xia)(xia)，滲(shen)透(tou)液(ye)可(ke)以滲(shen)透(tou)進表(biao)面開口缺(que)陷中；經去除(chu)零件(jian)表(biao)面多余的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)后，再在零件(jian)表(biao)面施(shi)涂(tu)顯(xian)像(xiang)(xiang)劑(ji)，同樣，在毛細管的(de)(de)(de)作用(yong)下(xia)(xia)，顯(xian)像(xiang)(xiang)劑(ji)將吸引缺(que)陷中保留的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)，滲(shen)透(tou)液(ye)回滲(shen)到顯(xian)像(xiang)(xiang)劑(ji)中，在一定的(de)(de)(de)光(guang)源下(xia)(xia)(紫(zi)外線光(guang)或(huo)白光(guang))，缺(que)陷處的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)痕(hen)跡被現實，(黃綠色熒光(guang)或(huo)鮮艷紅色)，從(cong)而探測(ce)出缺(que)陷的(de)(de)(de)形貌及分布狀態。        


 滲透檢測的優點(dian)：1. 可檢測各種材(cai)料； 2. 具有較(jiao)高的靈(ling)敏度；3. 顯示直觀、操作(zuo)方便、檢測費用(yong)低。       


 滲透檢測的缺點：1. 不適于(yu)檢查多孔(kong)性疏松材料(liao)制成的(de)工(gong)件和(he)表面(mian)粗糙的(de)工(gong)件；2. 滲透檢測只能檢出(chu)缺陷(xian)的(de)表面(mian)分布，難(nan)以(yi)確定缺陷(xian)的(de)實際(ji)深度，因而很難(nan)對缺陷(xian)做出(chu)定量評(ping)價。檢出(chu)結果受操作者的(de)影響(xiang)也較大。       


 最后一種(zhong)，射線檢(jian)測，是(shi)因為 X射線穿過被照射物體后會(hui)有(you)損耗，不同(tong)厚度不同(tong)物質對它們的(de)吸收率不同(tong)，而底片放(fang)在被照射物體的(de)另一側，會(hui)因為射線強(qiang)度不同(tong)而產生(sheng)相應的(de)圖形(xing),評片人員(yuan)就可(ke)以根(gen)據影像來判斷物體內(nei)部的(de)是(shi)否有(you)缺(que)陷以及缺(que)陷的(de)性質。 


 射線檢測的(de)適用性(xing)(xing)(xing)和局限(xian)性(xing)(xing)(xing)：   1. 對(dui)檢測體(ti)積型(xing)的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)比(bi)(bi)較敏感，比(bi)(bi)較容易對(dui)缺(que)(que)(que)陷(xian)進(jin)行定(ding)(ding)性(xing)(xing)(xing)。 2. 射線底(di)片易于保(bao)留，有(you)(you)追(zhui)溯性(xing)(xing)(xing)。3. 直觀顯示缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)形狀(zhuang)和類型(xing)。  4. 缺(que)(que)(que)點不能定(ding)(ding)位(wei)缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)埋藏(zang)深度(du)，同(tong)時檢測厚(hou)度(du)有(you)(you)限(xian)，底(di)片需專門(men)送洗，并且對(dui)人身(shen)體(ti)有(you)(you)一定(ding)(ding)害，成本(ben)較高。     


  總(zong)而言(yan)之，超聲(sheng)(sheng)波(bo)、X射(she)線探(tan)傷(shang)(shang)適(shi)(shi)用于探(tan)傷(shang)(shang)內部缺(que)陷(xian)；其(qi)中(zhong)超聲(sheng)(sheng)波(bo)適(shi)(shi)用于5mm以上，且形狀規則的(de)部件，X射(she)線不能定位缺(que)陷(xian)的(de)埋藏深(shen)度，有輻(fu)射(she)。 磁(ci)粉(fen)、滲(shen)(shen)透探(tan)傷(shang)(shang)適(shi)(shi)用于探(tan)傷(shang)(shang)部件表(biao)面缺(que)陷(xian)；其(qi)中(zhong)磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)僅限于檢(jian)測(ce)磁(ci)性材料，滲(shen)(shen)透探(tan)傷(shang)(shang)僅限于檢(jian)測(ce)表(biao)面開口缺(que)陷(xian)。