自動化不銹(xiu)鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列(lie)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)探頭是磁(ci)(ci)場傳(chuan)感器(qi)的(de)載(zai)體和(he)組合(he)，是漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)信(xin)號的(de)收集器(qi)。隨著(zhu)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)應(ying)用的(de)不斷深(shen)入和(he)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)要(yao)求(qiu)的(de)逐步(bu)提高，除了(le)磁(ci)(ci)化問題，另一個核(he)心(xin)就是漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)探頭的(de)設計。若探頭性(xing)能不好或者不合(he)適，則會出(chu)現漏(lou)判或者誤判，嚴重影響(xiang)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)的(de)可靠性(xing)。
另一(yi)方(fang)面，沒(mei)有(you)一(yi)種(zhong)探(tan)頭(tou)是萬能的。由于自(zi)然缺陷(xian)的形態千變萬化(hua)，檢測(ce)探(tan)頭(tou)必然存在局(ju)限性，漏(lou)判或誤判的情況在檢測(ce)實踐(jian)中(zhong)時有(you)發生(sheng)。下(xia)面對(dui)檢測(ce)探(tan)頭(tou)的內部結構(gou)和檢測(ce)特(te)性進(jin)行分(fen)析。
一(yi)、漏磁檢(jian)測探頭的結構(gou)形式
目前(qian)，最具代表性的不銹鋼管漏磁(ci)檢測(ce)(ce)傳感器有兩種：霍爾(er)元件和(he)感應線圈，尤其是集成霍爾(er)元件和(he)光刻(ke)平面線圈。為了獲得較高的磁(ci)場測(ce)(ce)量空(kong)間分辨力和(he)相(xiang)對寬廣的掃查范圍，檢測(ce)(ce)探頭(tou)芯(xin)結構(gou)有多種形式。
1. 點(dian)(dian)檢測(ce)形式(shi) 在檢測(ce)探頭(tou)(tou)中，對(dui)某一點(dian)(dian)上(shang)或微小區域的漏磁場(chang)測(ce)量(liang)，并且每(mei)個測(ce)點(dian)(dian)對(dui)應于一個獨(du)立的信(xin)號(hao)通道，如圖3-6a所示，以(yi)下簡稱(cheng)為點(dian)(dian)檢探頭(tou)(tou)。很明(ming)顯(xian)，點(dian)(dian)檢探頭(tou)(tou)中每(mei)個點(dian)(dian)能(neng)夠掃查的檢測(ce)范圍(wei)很小，但空間分辨力(li)高，如單個霍爾元件(jian)的敏感面積只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)檢用檢測(ce)線圈也可做(zuo)到φ1mm內。
2. 線檢(jian)測形(xing)式 在檢(jian)測探(tan)頭中，對(dui)一(yi)條(tiao)線上(shang)的(de)漏(lou)磁場進行綜合測量(liang)，如圖3-6b所示，以下簡(jian)稱為線檢(jian)探(tan)頭。例如，用感(gan)應線圈(quan)檢(jian)測時(shi)，將線圈(quan)做成條(tiao)狀，則它(ta)感(gan)應的(de)是線圈(quan)掃查路(lu)徑對(dui)應空(kong)間范(fan)圍(wei)內(nei)的(de)漏(lou)磁通的(de)變化。用霍爾(er)元(yuan)(yuan)件檢(jian)測時(shi)，采用線陣排列，將多(duo)個元(yuan)(yuan)件檢(jian)測信號用加法器疊(die)加后輸出(chu)單個通道信號，則該信號反映的(de)是霍爾(er)元(yuan)(yuan)件線陣長度內(nei)的(de)磁感(gan)應強(qiang)度的(de)平均(jun)值。
在漏磁檢測中(zhong)，上述兩種形式(shi)是(shi)最基本的(de)形式(shi)，由此(ci)可以組合成多(duo)種形式(shi)的(de)探頭(tou)，如(ru)圖3-6c所示的(de)平面內的(de)面陣列(lie)探頭(tou)，以及圖3-6d所示的(de)多(duo)個平面上的(de)立體陣列(lie)探頭(tou)。
二、漏磁檢測探頭的(de)檢測特性(xing)
1. 缺(que)陷類(lei)型(xing)
不(bu)銹鋼管(guan)在進(jin)行(xing)漏磁檢測方法和(he)設(she)備的考核時，常采用機加(jia)工或電火花方式刻制標(biao)準人工缺(que)(que)陷，自然(ran)缺(que)(que)陷可表達成它們的組合形式。為便(bian)于(yu)分(fen)析和(he)精確評估(gu)，將標(biao)準缺(que)(que)陷分(fen)成下列三類。
（1）點(dian)狀(zhuang)缺陷 點(dian)狀(zhuang)缺陷的(de)(de)面積(ji)小，集中在一(yi)點(dian)或小圈內，如標準缺陷里的(de)(de)通(tong)孔，自(zi)然缺陷里的(de)(de)蝕坑、斑點(dian)、氣孔等，它們產生的(de)(de)漏磁場是一(yi)個集中的(de)(de)點(dian)團狀(zhuang)場，分(fen)布范(fan)圍(wei)小。
（2）線(xian)(xian)狀缺陷(xian) 線(xian)(xian)狀缺陷(xian)的寬長比很(hen)小(xiao)，形(xing)成一(yi)條線(xian)(xian)，如標準缺陷(xian)里的矩形(xing)刻槽、自(zi)然缺陷(xian)里的裂紋等，它(ta)們產生(sheng)的漏磁(ci)場是沿線(xian)(xian)條的帶(dai)狀場。
（3）體狀(zhuang)缺陷 體狀(zhuang)缺陷的(de)(de)長、寬、深尺(chi)寸均較(jiao)大，形成坑或窩，如標準缺陷中(zhong)的(de)(de)大不通孔、自(zi)然缺陷里的(de)(de)片(pian)狀(zhuang)腐蝕(shi)等(deng)，它們(men)產生(sheng)的(de)(de)漏磁場分(fen)布(bu)范圍(wei)廣。
2. 不同結構(gou)探頭的檢測特(te)性
不銹鋼(gang)管(guan)在漏(lou)磁(ci)檢測(ce)中，特(te)別要強調空間(jian)和方向(xiang)(xiang)的概念。因(yin)為，漏(lou)磁(ci)場(chang)是空間(jian)場(chang)，且(qie)(qie)具(ju)有方向(xiang)(xiang)性；漏(lou)磁(ci)檢測(ce)信號是時間(jian)域的，且(qie)(qie)沒有相位(wei)信息；不僅(jin)檢測(ce)探頭(tou)具(ju)有敏感方向(xiang)(xiang)，而且(qie)(qie)檢測(ce)探頭(tou)的掃查(cha)路徑也具(ju)有方向(xiang)(xiang)性，不同方向(xiang)(xiang)均會(hui)對檢測(ce)信號及其特(te)征產(chan)生影響。
另一(yi)方面，應(ying)(ying)該特別注意缺(que)陷(xian)漏(lou)磁場(chang)的(de)(de)(de)表(biao)征形式，在這里，漏(lou)磁場(chang)強度(du)和漏(lou)磁場(chang)梯(ti)度(du)存在著(zhu)本質的(de)(de)(de)不同(tong)。霍爾元件和感(gan)應(ying)(ying)線圈兩種器(qi)件的(de)(de)(de)應(ying)(ying)用也有著(zhu)根(gen)本的(de)(de)(de)區別。霍爾元件可以(yi)(yi)測(ce)量(liang)空(kong)間某(mou)點(dian)上的(de)(de)(de)磁場(chang)強度(du)，而感(gan)應(ying)(ying)線圈卻無法實(shi)現；感(gan)應(ying)(ying)線圈感(gan)應(ying)(ying)的(de)(de)(de)是(shi)(shi)空(kong)間一(yi)定范圍內(nei)的(de)(de)(de)磁通(tong)量(liang)的(de)(de)(de)變化程度(du)，相反，霍爾元件不可以(yi)(yi)測(ce)量(liang)磁通(tong)量(liang)的(de)(de)(de)變化，它(ta)測(ce)量(liang)的(de)(de)(de)是(shi)(shi)一(yi)定空(kong)間范圍內(nei)的(de)(de)(de)磁感(gan)應(ying)(ying)強度(du)的(de)(de)(de)平均值。
下面(mian)將逐一(yi)分析(xi)兩(liang)種基本探頭(tou)形式對不同(tong)類型缺(que)陷的(de)檢測信(xin)號(hao)特性。
a. 點檢(jian)探頭(tou)的信號特性
點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭測(ce)量的(de)(de)是(shi)空間某點(dian)(dian)(dian)上的(de)(de)漏(lou)磁(ci)感(gan)應(ying)強(qiang)度(du)或(huo)磁(ci)通(tong)(tong)量的(de)(de)變化(hua)。點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭對(dui)點(dian)(dian)(dian)狀缺(que)陷的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)是(shi)“針尖對(dui)麥芒”，空間相(xiang)對(dui)位置的(de)(de)微小變化(hua)，均有可能(neng)引起檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號幅度(du)的(de)(de)波動。點(dian)(dian)(dian)狀缺(que)陷的(de)(de)漏(lou)磁(ci)場分布是(shi)尖峰狀的(de)(de)，當(dang)點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭正對(dui)峰頂(ding)時，信(xin)(xin)號幅度(du)最(zui)大，偏(pian)離時信(xin)(xin)號幅度(du)將急劇下降。因此(ci)，用點(dian)(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭去檢(jian)(jian)測(ce)點(dian)(dian)(dian)狀缺(que)陷時將會產(chan)生(sheng)不穩定的(de)(de)信(xin)(xin)號，導致(zhi)誤判(pan)或(huo)漏(lou)判(pan)。進行(xing)檢(jian)(jian)測(ce)設備標定時，也難將各通(tong)(tong)道的(de)(de)靈敏度(du)調整到一致(zhi)。
點檢(jian)探頭檢(jian)測線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian)時(shi)，很容易掃查(cha)到線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian)產生的(de)“山(shan)脈(mo)”狀(zhuang)(zhuang)漏磁場的(de)某一個縱斷面，檢(jian)測信號幅度(du)(du)將正比于線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian)的(de)深度(du)(du)。當(dang)線(xian)狀(zhuang)(zhuang)缺陷(xian)長度(du)(du)大于一定值(zhi)時(shi)，設(she)備(bei)標定或檢(jian)測信號的(de)一致性和穩定性均較好。
b. 線檢探頭的信(xin)號特性(xing)
線檢(jian)探(tan)頭測量的(de)(de)(de)(de)(de)是探(tan)頭長度范圍內(nei)的(de)(de)(de)(de)(de)平均磁感應(ying)強度或磁通量的(de)(de)(de)(de)(de)變化(hua)。與點(dian)檢(jian)探(tan)頭相(xiang)比，線檢(jian)探(tan)頭的(de)(de)(de)(de)(de)輸出信(xin)號特(te)性不(bu)但與缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)深(shen)度有關，而且與缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)長度有關，最終與缺(que)(que)陷(xian)缺(que)(que)失的(de)(de)(de)(de)(de)截面積成比例。這類(lei)探(tan)頭不(bu)能直接獲(huo)得與缺(que)(que)陷(xian)深(shen)度相(xiang)關的(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)息，因為(wei)長而淺的(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)與短而深(shen)的(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)在檢(jian)測信(xin)號幅度上有可能是一樣(yang)的(de)(de)(de)(de)(de)。
線(xian)檢探(tan)頭對(dui)點狀缺(que)陷(xian)的(de)檢測(ce)(ce)是(shi)“滴水不漏(lou)”。由(you)于(yu)線(xian)檢探(tan)頭的(de)長度(du)遠大于(yu)點狀缺(que)陷(xian)的(de)長度(du)，在檢測(ce)(ce)路徑上，缺(que)陷(xian)相對(dui)于(yu)探(tan)頭位置變化時，不會(hui)影(ying)響(xiang)檢測(ce)(ce)信(xin)號(hao)的(de)幅度(du)，因而一(yi)致(zhi)性較(jiao)好。
線(xian)檢探頭(tou)檢測線(xian)狀缺陷時(shi)，情況(kuang)較為(wei)復雜(za)，探頭(tou)與缺陷的長度比以及位置關系均會影響(xiang)信(xin)號幅值。下面舉例分(fen)析(xi)。
如(ru)圖3-7a所示，用(yong)(yong)有效(xiao)長度(du)為(wei)25mm的(de)(de)線(xian)(xian)(xian)檢(jian)探頭(tou)檢(jian)測25mm長的(de)(de)刻(ke)槽(cao)。當(dang)探頭(tou)正對(dui)刻(ke)槽(cao)時，獲得最(zui)大的(de)(de)信(xin)(xin)(xin)號(hao)幅值；當(dang)探頭(tou)與刻(ke)槽(cao)的(de)(de)位置(zhi)錯(cuo)開時，信(xin)(xin)(xin)號(hao)幅值將(jiang)隨(sui)著探頭(tou)與缺陷交(jiao)叉重疊程度(du)的(de)(de)減小(xiao)而減弱，此種(zhong)狀態(tai)對(dui)檢(jian)測是(shi)(shi)不(bu)利的(de)(de)，不(bu)論是(shi)(shi)設備標定還(huan)是(shi)(shi)檢(jian)測應用(yong)(yong)均(jun)很難(nan)獲得一(yi)致的(de)(de)檢(jian)測信(xin)(xin)(xin)號(hao)。圖3-7中左(zuo)邊的(de)(de)粗(cu)線(xian)(xian)(xian)段(duan)為(wei)線(xian)(xian)(xian)檢(jian)探頭(tou)，中間的(de)(de)細線(xian)(xian)(xian)段(duan)為(wei)不(bu)同位置(zhi)的(de)(de)線(xian)(xian)(xian)狀缺陷，右(you)邊為(wei)不(bu)同探頭(tou)的(de)(de)檢(jian)測信(xin)(xin)(xin)號(hao)幅度(du)。為(wei)實現線(xian)(xian)(xian)檢(jian)探頭(tou)的(de)(de)一(yi)致性檢(jian)測，有如(ru)下兩種(zhong)做法：
①. 減小(xiao)線檢(jian)探(tan)頭(tou)的有效長度，讓它小(xiao)于或等于線狀缺陷長度的一(yi)半，同時將相鄰檢(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)按(an)50％重疊布(bu)置，如圖3-7b所示(shi)。可(ke)以看出，不(bu)論缺陷從哪個路(lu)徑通過探(tan)頭(tou)陣列，均(jun)可(ke)在(zai)某一(yi)檢(jian)測(ce)單(dan)元中獲(huo)得一(yi)個最大(da)的信號(hao)幅值，而在(zai)其他檢(jian)測(ce)單(dan)元中得到較小(xiao)的信號(hao)幅值。
此(ci)時(shi)，由于線狀缺陷(xian)長(chang)度遠大于探(tan)頭長(chang)度，檢測(ce)探(tan)頭測(ce)量的是(shi)漏磁場(chang)“山脈”中的某一(yi)段，如(ru)果線狀缺陷(xian)深度一(yi)致，它可以(yi)直(zhi)接反映出深度信息。將線檢探(tan)頭的長(chang)度再不斷縮小，線檢探(tan)頭則變成點(dian)檢探(tan)頭。此(ci)時(shi)，在采用標準人工缺陷(xian)進(jin)行設備標定時(shi)，任(ren)何狀態均可得到一(yi)致的檢測(ce)信號(hao)。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此(ci)種檢測方法(fa)測量的是(shi)線(xian)(xian)狀缺陷(xian)的平均磁(ci)感應強度，因(yin)而，它(ta)反映不了線(xian)(xian)狀缺陷(xian)的深度信息。當(dang)缺陷(xian)的長度逐漸(jian)減小時(shi)，則轉變成線(xian)(xian)檢探(tan)頭對點狀缺陷(xian)的檢測。
3. 面向對象(xiang)的檢測探(tan)頭設(she)計(ji)和選用
在(zai)漏磁檢測中(zhong)，應該根據具體的(de)檢測要求來設計(ji)和選擇合適(shi)的(de)探頭芯結構，下面(mian)給出幾種探頭設計(ji)和選用原則。
a. 缺陷(xian)的深(shen)度檢(jian)(jian)測應該(gai)選擇點(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou) 點(dian)(dian)檢(jian)(jian)探(tan)頭(tou)反映(ying)的是(shi)局部(bu)磁感應強度或其(qi)變化。當裂紋較(jiao)長時(shi)，測點(dian)(dian)相當于(yu)對無限(xian)長矩(ju)形槽的探(tan)測，因而(er)，測點(dian)(dian)的信(xin)號幅(fu)度與缺陷(xian)深(shen)度密切相關(guan)。但是(shi)，當線狀缺陷(xian)越(yue)來越(yue)短時(shi)，測量的誤差也就越(yue)來越(yue)大，特(te)別地，對點(dian)(dian)狀缺陷(xian)的深(shen)度探(tan)測幾乎不可(ke)能。
在鋼管(guan)漏磁(ci)檢(jian)測校樣(yang)過程中，一般均(jun)以通(tong)孔(kong)(kong)(kong)(kong)作為標(biao)定試樣(yang)上的標(biao)準缺陷，這樣(yang)，大、小孔(kong)(kong)(kong)(kong)的深度(du)一致，孔(kong)(kong)(kong)(kong)徑(jing)尺寸反映(ying)出缺失(shi)截面積的線性(xing)變(bian)化，因而(er)，漏磁(ci)磁(ci)通(tong)量也(ye)將發生線性(xing)變(bian)化。對于不(bu)(bu)通(tong)孔(kong)(kong)(kong)(kong)，當(dang)孔(kong)(kong)(kong)(kong)的深度(du)和(he)直(zhi)徑(jing)均(jun)為變(bian)量時，僅(jin)(jin)通(tong)過尋找孔(kong)(kong)(kong)(kong)深與孔(kong)(kong)(kong)(kong)徑(jing)的乘積與信(xin)號幅度(du)關系去反演或推算深度(du)是(shi)不(bu)(bu)可能的。這也(ye)是(shi)僅(jin)(jin)采用漏磁(ci)方法進行檢(jian)測的不(bu)(bu)足。
b. 缺(que)(que)陷的(de)損(sun)失截(jie)面積檢測應該選擇(ze)線檢探頭(tou) 線檢探頭(tou)的(de)信號幅度與缺(que)(que)陷損(sun)失的(de)截(jie)面積成比(bi)例，因而有較(jiao)好的(de)測量精度。在有些檢測對象中應用較(jiao)好。
c. 缺陷的(de)長(chang)度(du)(du)檢測應(ying)(ying)該用點(dian)檢探(tan)頭(tou)陣列(lie)(lie)或點(dian)線組合式探(tan)頭(tou) 點(dian)檢探(tan)頭(tou)敏感于(yu)缺陷的(de)深度(du)(du)，當采用點(dian)檢探(tan)頭(tou)陣列(lie)(lie)時，缺陷長(chang)度(du)(du)覆蓋的(de)通道數(shu)量可(ke)以(yi)反映其長(chang)度(du)(du)信(xin)(xin)息(xi)；另一方面，當線檢探(tan)頭(tou)大于(yu)缺陷的(de)長(chang)度(du)(du)時，感應(ying)(ying)的(de)是深度(du)(du)和長(chang)度(du)(du)的(de)共同信(xin)(xin)息(xi)，如在其感應(ying)(ying)范圍內并列(lie)(lie)布置一個或多個點(dian)檢探(tan)頭(tou)感受深度(du)(du)信(xin)(xin)息(xi)，則(ze)裂(lie)紋的(de)長(chang)度(du)(du)就(jiu)可(ke)以(yi)計算出來。
從信(xin)號處理(li)角度(du)來看，點線(xian)組(zu)合式探頭需要(yao)的(de)通(tong)道數量較少，可以同時獲(huo)得(de)缺(que)(que)陷的(de)深度(du)、長度(du)、缺(que)(que)失截(jie)面積等信(xin)息，具有(you)較強的(de)應用價值。
d. 斜向(xiang)裂紋采用(yong)點檢(jian)(jian)探頭陣列(lie)檢(jian)(jian)測(ce) 在漏(lou)磁檢(jian)(jian)測(ce)中(zhong)，當缺(que)陷走(zou)向(xiang)與磁化(hua)場方向(xiang)不垂(chui)直時(shi)，漏(lou)磁場的強度將降低，從而獲得較(jiao)小的信(xin)號幅值。因此，斜向(xiang)缺(que)陷的檢(jian)(jian)測(ce)與評估，需(xu)要首先檢(jian)(jian)測(ce)出裂紋的走(zou)向(xiang)，并(bing)且根據走(zou)向(xiang)修正漏(lou)磁場信(xin)號幅度，再(zai)進行深度判別。
另一方面，當(dang)探頭(tou)掃查路徑垂直于缺陷(xian)走(zou)向時(shi)(shi)，檢(jian)測信(xin)(xin)號(hao)幅值(zhi)(zhi)最(zui)大(da)；隨著(zhu)兩(liang)者夾角不斷減小，檢(jian)測信(xin)(xin)號(hao)幅值(zhi)(zhi)逐(zhu)漸降低，同(tong)時(shi)(shi)信(xin)(xin)號(hao)特性(xing)也將發生(sheng)明顯變(bian)化。此(ci)時(shi)(shi)，線檢(jian)探頭(tou)的(de)檢(jian)測信(xin)(xin)號(hao)特性(xing)變(bian)化很大(da)，點(dian)(dian)檢(jian)探頭(tou)的(de)信(xin)(xin)號(hao)幅度波動(dong)卻很小。因(yin)此(ci)，可(ke)利用點(dian)(dian)檢(jian)探頭(tou)陣(zhen)列中各通道獲(huo)得最(zui)大(da)幅值(zhi)(zhi)的(de)時(shi)(shi)間(jian)差異來推算缺陷(xian)走(zou)向，為后(hou)續的(de)信(xin)(xin)號(hao)補(bu)償(chang)與缺陷(xian)判(pan)別奠定基礎，如圖3-8所示。
漏(lou)磁(ci)設備的(de)(de)檢(jian)(jian)測能力(li)(li)與探頭芯(xin)結構密切相關，從(cong)目前應(ying)用情(qing)況來看，漏(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測方法對內外(wai)部(bu)腐蝕(shi)坑、內外(wai)部(bu)周／軸向裂(lie)紋(wen)均有(you)較好的(de)(de)檢(jian)(jian)測精度，同時，對斜向裂(lie)紋(wen)具有(you)一定的(de)(de)檢(jian)(jian)測能力(li)(li)。但是(shi)，漏(lou)磁(ci)檢(jian)(jian)測方法對微(wei)裂(lie)紋(wen)，如初期的(de)(de)疲勞裂(lie)紋(wen)、熱處理的(de)(de)應(ying)力(li)(li)裂(lie)紋(wen)、軋制時的(de)(de)微(wei)機械裂(lie)紋(wen)和折疊不太敏感。究(jiu)其原因，微(wei)裂(lie)紋(wen)的(de)(de)開(kai)口均小于0.05mm，漏(lou)磁(ci)場強度較低，因此(ci)，有(you)必要輔以渦流、超(chao)聲等其他檢(jian)(jian)測方法。
我國進口(kou)漏(lou)磁檢測設備(bei)采用的(de)(de)(de)基本都(dou)是基于線圈的(de)(de)(de)線檢探(tan)頭，這種配(pei)置(zhi)需要的(de)(de)(de)信號(hao)通道數量(liang)相對較(jiao)少、探(tan)靴(xue)的(de)(de)(de)有效(xiao)覆(fu)蓋范圍大。但是，這種方式對缺陷的(de)(de)(de)深度評定需要一定的(de)(de)(de)輔助條件，而(er)且(qie)對斜(xie)向(xiang)缺陷的(de)(de)(de)檢測靈敏(min)度較(jiao)低(di)。
在具體應用過(guo)程(cheng)中，首先(xian)應分析(xi)檢(jian)測要(yao)求(qiu)和對(dui)象特點(dian)，其(qi)次(ci)要(yao)認識探頭芯的(de)形(xing)式和結構。總(zong)的(de)來講，采用線檢(jian)探頭去檢(jian)測線狀缺(que)陷(xian)的(de)深度(du)信(xin)(xin)息和采用點(dian)檢(jian)探頭去評定點(dian)狀缺(que)陷(xian)的(de)長度(du)信(xin)(xin)息均是不現實的(de)；高(gao)精度(du)的(de)檢(jian)測需(xu)要(yao)以大量的(de)獨立測量通道和信(xin)(xin)號處理系(xi)統(tong)為(wei)代價，因此，應根據檢(jian)測目(mu)標綜合(he)權衡。
